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Equipo 3030IL In-Circuit Tester
Minimiza el coste del test
Sin operador
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3030IL es el testeador de cama de pinchos completamente automático diseñado expresamente para minimizar el coste del test, proporcionando un rendimiento incomparable sin necesidad de que el operador cargue la PCB o realice el test. Puede integrarse rápidamente en las líneas de producción de SMEMA o utilizarse con cargadores / descargadores de placas automáticos estándar. Modular y completamente actualizable, 3030IL combina una amplia gama de capacidades de prueba en un sistema único, integrado, de alto rendimiento y rentable.
Los testers de placas 3030 se pueden equipar con hasta 4 núcleos independientes, cada uno con CPU, memoria local e instrumentación independientes, capaces de testear en paralelo hasta 4 placas. En comparación con los testers ICT estándar, la productividad de SPEA 3030 es hasta un 400% más alta, lo que minimiza el coste de los tests de placas.
3030IL es totalmente compatible con los sistemas manuales 3030. Puede migrar la producción de un comprobador en línea a uno manual y viceversa, sin cambiar el dispositivo ni el programa de prueba. También puede hacer que el sistema esté disponible para otras aplicaciones durante las operaciones de depuración y reparación de la placa, aumentando el uso del sistema.
Con la opción Multi-Stage, 3030IL ofrece diferentes técnicas de prueba simultáneamente (por ejemplo: In-Circuit + Functional, In Circuit + Flashing, etc.), optimizando las pruebas entre las dos etapas y reduciendo aún más el tiempo y los costos.
3030IL no necesita un operador para cargar/descargar la placa y realizar la prueba. El sistema funciona de forma totalmente automatizada, cuando se integra en la línea de producción SMEMA o con cargadores/descargadores estándar, aumentando el rendimiento y reduciendo drásticamente el costo de la prueba.
En comparación con el ATE estándar, la velocidad de test de 3030 es significativamente mejor. Una CPU dedicada en cada núcleo garantiza que no haya retardo entre instrumentación y PC. Relés de alto rendimiento provean un tiempo de conmutación rápido. La arquitectura de los instrumentos minimiza el tiempo de configuración de los instrumentos durante los tests. La posibilidad de realizar diferentes mediciones simultáneamente, con un solo núcleo de test, reduce aún más el tiempo de test.
3030IL se puede equipar con uno o más módulos parpadeantes de 4 núcleos, capaces de programar en componentes paralelos de diferentes tipos. Permiten programar funciones específicas, así como cargar el software del sistema en los CI durante la prueba, con el fin de reducir el tiempo y el costo de parpadeo.
El test paramétrico de ICT de alta velocidad del 3030IL es capaz de medir el valor de cada componente en muy poco tiempo. Ventajas: reducción del tiempo de programación (la prueba se genera automáticamente), reducción del tiempo de prueba (microsegundos de ICT vs milisegundos de FCT), reducción del tiempo de reparación (identificación automática del dispositivo de avería).
Con la arquitectura independiente de la PC de 3030 de SPEA, el programa de test reside en la CPU del tester y la velocidad del test está determinada por la CPU del sistema. Un antivirus y otras aplicaciones que están en ejecución en la PC no afectan la velocidad del test. Además, puedes cambiar/actualizar la PC en cualquier momento, sin tener que depurar otra vez el programa de test.
Con la arquitectura independiente de la PC de 3030 de SPEA, el programa de test reside en la CPU del tester y la velocidad del test está determinada por la CPU del sistema. Un antivirus y otras aplicaciones que están en ejecución en la PC no afectan la velocidad del test. Además, puedes cambiar/actualizar la PC en cualquier momento, sin tener que depurar otra vez el programa de test.
Más información en – https://www.spea.com/products/3030-inline/
Contacto controlado con receptor motorizado
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