Equipo de test Automático In-Circuit 3030C ICT

3030CE In-Circuit Tester

Equipo pequeño, alta cobertura de test
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Características clave:

• Verdadera prueba paralela 2x
• Huella pequeña
• TIC paramétrica de alta velocidad
• Desarrollo automático de aplicaciones
• Múltiples funciones de prueba: TIC, FCT, Flashing

Compacto. Poderoso

3030C es el probador cama de pinchos diseñado para ofrecer una solución de test rentable en chasis pequeño. Modular y configurable con una gama completa de instrumentación y receptores, 3030C proporciona un rendimiento 2x en comparación con las soluciones de test estándar, gracias a su test paralelo real de 2 núcleos, 3030C ofrece múltiples capacidades de tests, garantizando una cobertura del 100% en un sistema único, integrado, de alto rendimiento y rentable.

Test Paralelo verdadero

3030C se puede equipar con hasta 2 núcleos independientes , cada uno con CPU independiente, memoria local e instrumentación – capaz de probar en paralelo hasta 2 placas / paneles de placas. En comparación con los testers de TIC estándar, el rendimiento de 3030C es hasta un 200% mayor,minimizando así el costo de las pruebas de la placa.

Ahorro del costo del test

Con true parallel multi-core architecture el costo de la prueba se reduce drásticamente. Sólo un sistema, un operador, un manejo, un accesorio y un PC para probar 2 PCB al mismo tiempo.

Arquitectura independiente del PC

Con SPEA 3030 PC- el programa de test reside en la CPU del probador y la velocidad de prueba viene determinada por la CPU del sistema. Antivirus y otras aplicaciones que se ejecutan en el PC no afectan a la velocidad de prueba. Por otra parte, puede cambiar / actualizar el PC en cualquier momento, sin tener que volver a depurar el programa de prueba.

Olvídese de las devoluciones

3030C ha sido diseñado para ayudar a los fabricantes de productos electrónicos a aumentar su calidad de producto. Mediante la ejecución de varias técnicas de prueba con su instrumentación y estímulos de alto rendimiento, 3030C puede encontrar de forma fiable fallos indetectables por los testeadores de TIC estándar.

Parpadeo paralelo multidisposición

3030C se puede equipar con uno o más módulos intermitentes de 4 núcleos,capaces de programar en componentes paralelos de diferentes tipos. El parpadeo permite programar funciones específicas (BIST o BOST), así como cargar el software del sistema en los CI durante la fase de prueba, reduciendo así el tiempo y el coste de programación.

Contacto preciso con los receptores de SPEA

El probador y el receptor están totalmente integrados,ambos diseñados por SPEA para proporcionar un equipo de prueba llave en mano rentable confiable. El contacto de la placa es seguro y preciso: cuando está equipado con receptores motorizados es posible programar la velocidad del prensatelador de acuerdo con las características UUT. El descenso es siempre planar,y también es posible programar diferentes niveles de contacto, para ejecutar diferentes pruebas en diferentes áreas de la UUT. La conexión directa sin cable entre la instrumentación del sistema y el accesorio garantiza la integridad de la señal. Por último, no hay necesidad de aire comprimido:3030C es fácil de mover a todas partes en la planta.

TIC paramétricas de alta velocidad

La prueba paramétrica TIC spea 3030C de alta velocidad es capaz de medir cada valor de un solo componente en muy poco tiempo.Ventajas: reducción de tiempo de programación (la prueba se genera automáticamente), reducción de tiempo de TEST (microsegundos de TEST TIC frente a milisegundos de FCT), reparación de la reducción de tiempo (identificación automática del dispositivo de falla).

para más informción: https://www.spea.com/products/3030c/