Equipo de test Automático In-Circuit 3030CE ICT

3030CE In-Circuit Tester

Alto rendimiento. Alta cobertura.

Totalmente compatible con 3030 Inline

Características Clave:

• Verdadera prueba paralela 2x
• Accesorio compatible con 3030 Inline
• TIC paramétrica de alta velocidad
• Desarrollo automático de aplicaciones
• Múltiples funciones de prueba

Compatibilidad total con 3030 Inline

3030CE es el tester de cama de pinchos diseñado para ofrecer una solución de prueba manual rentable totalmente compatible con testeadores en línea 3030. El programa de sujeción, prensa y prueba se puede mover rápida y fácilmente de 3030CE a 3030 Inline y viceversa, sin ajustes mecánicos. Modular y configurable, 3030CE proporciona un rendimiento 2x en comparación con las soluciones de prueba estándar, gracias a su prueba paralela real de 2 núcleos. 3030CE ofrece múltiples capacidades de test, garantizando una cobertura del 100% en un sistema único, integrado, de alto rendimiento y rentable.

Verdadera Prueba Paralela

El accesorio 3030CE, la placa de prensa y el programa de prueba son totalmente compatibles con el probador 3030IL,sin necesidad de ningún ajuste mecánico. Puede mover rápidamente su producción de probadores manuales a automáticos y viceversa, dependiendo de las necesidades de producción.

Migración del programa de accesorios y pruebas a 3030 Inline

El accesorio 3030CE, la placa de prensa y el programa de test son totalmente compatibles con el probador 3030IL,sin necesidad de ningún ajuste mecánico. Puede mover rápidamente su producción de probadores manuales a automáticos y viceversa, dependiendo de las necesidades de producción.

Arquitectura independiente del PC

Con SPEA 3030 PC-independiente Arquitectura el programa de prueba reside en la CPU del probador y la velocidad de prueba viene determinada por la CPU del sistema. Antivirus y otras aplicaciones que se ejecutan en el PC no afectan a la velocidad del test. Además, puede cambiar / actualizar el PC en cualquier momento, sin tener que volver a depurar el programa de test.

Parpadeo paralelo multidisposición

3030CE se puede equipar con uno o más módulos parpadeantes de 4 núcleos,capaces de programar en componentes paralelos de diferentes tipos. El parpadeo permite programar funciones específicas (BIST o BOST), así como cargar el software del sistema en los CI durante la fase del test, reduciendo así el tiempo y el coste de programación.

Contacto preciso con los receptores de SPEA

El probador y el receptor están totalmente integrados,ambos diseñados por SPEA para proporcionar un equipo de prueba llave en mano rentable confiable. El contacto de la placa es seguro y preciso: cuando el sistema está equipado con receptores motorizados, es posible programar la velocidad del prensatelador de acuerdo con las características UUT. El descenso es siempre planar,y también es posible programar diferentes niveles de contacto,por lo que para ejecutar diferentes pruebas en diferentes áreas de la UUT. La conexión directa sin cable entre la instrumentación del sistema y el accesorio garantiza la integridad de la señal. Finalmente no hay necesidad de aire comprimido: 3030CE es fácil de mover a todas partes en la planta.

TIC paramétricas de alta velocidad

La prueba paramétrica TIC spea 3030CE de alta velocidad es capaz de medir cada valor de un solo componente en muy poco tiempo.
Ventajas: reducción de tiempo de programación (la prueba se genera automáticamente), reducción de tiempo de prueba (microsegundos de prueba TIC frente a milisegundos de FCT), reparación de la reducción de tiempo (identificación automática del dispositivo de falla).

Para más información – https://www.spea.com/products/3030-ce/